ポータブルフラッシュメモリチップインテリジェントテストシステム
ポータブルフラッシュメモリチップインテリジェントテストシステム
製品説明:
スマートテストシステムHD-N8-NANDは、最大8つのフラッシュ粒子を並行してテストするようにカスタマイズできる包括的なフラッシュメモリテストシステムです。
HD-N8-NANDは、幅広いテストパターンとカスタマイズされたテストパラメータをサポートしています。ワンクリックの基本テストフロー、柔軟性の高い実験テスト、高度なテストフローを提供し、ワンクリックの基本テストフロー、柔軟性の高い実験テスト、高度なテストフローを提供し、残寿命予測、実際のテスト、データ保持、フラッシュメモリ粒子の読み取り障害などのさまざまな機能テストを実現できます。テストレポートは、テスト完了後に迅速かつ簡単にエクスポートできます。最も直感的なグラフィカルなテストデータを提供し、フラッシュ粒子の分類とアプリケーションのための最も正確なリファレンスを提供します。また、フラッシュ粒子の分類と適用に関する最も正確なリファレンスを提供し、フラッシュ粒子品質テスト結果に基づくインテリジェントなグレーディングを可能にします。
仕様:
物理的特性 | |
機器サイズ | W400×H510×D520ミリメートル |
電源供給方式 | 交流 |
動作電圧範囲 | 交流(220±10%)V単相2線式+保護アース |
通常の動作消費電力 | 2KWの |
動作温度範囲 | -30°C~150°C |
保管温度範囲 | -20°C~60°C |
動作湿度範囲 | 45%~75% |
システムパフォーマンス | |
並列試験可能な粒子数 | 1~8個 |
テストでサポートされているフラッシュ ブランド | Micron、Intel、YMTC、Hynix、Toshiba、SandiskなどのSLC、MLC、TLC、Sandiskなど、QLCタイプのNANDフラッシュチップ粒子(範囲を拡大中) |
サポートされているパッケージサイズ | BGA152、BGA132(カスタム拡張可能) |
サポートされているフラッシュプロトコルタイプ | ONFI/トグルインターフェースパーティクル |
サポート電圧 | ハードウェアサポートV1.2、V1.8オプション |
サポートされる電圧プルオフ範囲 | ソフトウェアサポートは微調整可能 vcc2.3~3.6 VCCQ1.2 1.15~1.25 VCCQ1.8 1.70~1.95 |
オプションのテスト範囲をサポート | 開始ブロック数、ブロック間間隔、サイクル数、テスト時間などの個別設定 |
サポートパターン | すべて0、すべて1、すべて5、擬似ランダム、市松模様グリッド、単語線ランダムなど。 |
テスト コマンドの種類のサポート | フラッシュメモリ情報検査 フラッシュメモリ性能テスト 寿命試験と予測 品質クラス分類 データ干渉テスト データ保持テスト 読み取り/再試行機能 ライフタイムテストと予測 ECCのカスタマイズ |
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