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64 Pieces Chip High and Low Temperature Accelerated Aging Chamber 1

64個のチップ高温および低温加速老化チャンバー

ソリッドステートディスクインテリジェントテストシステム

モデル：

HD-64-NVME

価格：

FOB、CIF

支払い：

L / C、D / P、T / T

パッケージ：

各セットは樹脂繊維とPPフィルムで保護され、操作マニュアルとビデオが入った丈夫な木製ケースに入れられます。

配達：

注文後15日。

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64個のチップ高温および低温加速老化チャンバー

特徴

32 チップ、36 チップ、64 チップ、96 チップ、156 チップ、216 チップなどの PCIE テストチップの数のカスタマイズをサポートします。
4個、8個などの超小型カスタマイズの研究開発をサポートします。
サポート(-70°~+ 180°)テスト
異常停電テストとエージングテストをサポート
自動温度制御テストをサポートします。
ソフトウェアですべてのインテリジェント制御テストをサポートします。
テストソフトウェアのカスタマイズをサポートします。
ボックス内の風速と温度のバランスをサポートします。
急速加熱および冷却制御をサポートします。
PCIE エージングのカスタマイズされた研究開発をサポートします。
ネットワーク制御をサポートし、さまざまな場所でテストを制御し、テスト結果を確認できます。
APPリモートコントロールテストをサポートします。

マシン全体のテストシステムには、主に高温および低温ボックス、PCメインボード、PMボード、チップボード、FPGAボード、製品ツーリング、リアウェアハウステストPCおよびテストソフトウェアなどが含まれます。ハードウェア部分。

SSDインテリジェントテストシステムの概要

SSDのインテリジェントテストシステムはWin10オペレーティングシステムプラットフォームを採用しており、オープンスクリプトモードにより、高温および低温ボックスの温度とPCIE製品のテスト項目を任意に変更でき、データ送信はLINUXシステムとネットワークスイッチを介して実行され、ワンボタン操作を実現します。ネットワーク化された制御、省力化、インテリジェントなデータ管理の実現、およびテスト結果の永続的な保持。