高温および低温加速老化チャンバー 512 フラッシュメモリチップインテリジェントテストシステム
512フラッシュメモリチップインテリジェントテストシステム
製品仕様書
1.フラッシュメモリチップインテリジェントテストシステムハードディスク-512-NANDは、テスト計画をカスタマイズし、さまざまなタイプのフラッシュメモリ粒子の並列テストをサポートできる包括的なフラッシュメモリテストシステムです。64 種類、並列テストでのフラッシュ メモリ粒子の最大数は 512 に達する可能性があります。
フラッシュメモリチップインテリジェントテストシステムYC-512-NANDは、複数のテストパターンとカスタムテストパラメータ機能をサポートし、ワンクリックの基本テストプロセスと高レベルのテストプロセスを高い柔軟性で提供でき、フラッシュメモリ粒子の残存寿命を実現できるだけでなく、実際の測定、データ保持、読み取り干渉、その他の機能テストは、ユーザーがフラッシュメモリ粒子の信頼性ステータスを検証するのにも役立ちます。テスト完了後、テストレポートを1つのキーで簡単かつ迅速にエクスポートでき、最も直感的で正確なグラフィカルテストデータを顧客に提供します。フラッシュメモリ粒子のグレード分類と適用のための最も直感的なデータ参照を提供し、フラッシュメモリ粒子の品質検査結果に基づいてインテリジェントな分類を実現します。
※テスト基準は、JEDEC スタンド No.218: ソリッド ステート テクノロジー アソシエーション B-2016 ソリッド ステート ドライブ (SSD) 要件および耐久性テストに準拠しています モト;
※試験基準はJEDEC規格No.47 NVCE:Solid State Technology Association Stress-Test-Drivenに準拠しています 集積回路の認定;
※テストボードの設計仕様は、産業グレードのテスト温度環境の要件を満たしています。
情報
内箱サイズ | 幅760×奥行き400×高さ890mm |
外箱サイズ | 幅1870×D890×H1830mm |
容積 | 270L |
開封方法 | シングルドア(右開) |
冷却方式 | 空冷 |
重量 | に関しては950キログラム |
電源 | 交流380Vに関しては7.5KWの |
制御システム
Dイスプレイ | カラー液晶ディスプレイ |
動作モード | プログラムモード、固定値モード |
設定 | 中国語と英語のメニュー(オプション)、タッチスクリーン入力 |
設定範囲 | 温度:機器の温度動作範囲に応じて調整します(上限+5°C、下限-5°C) |
ディスプレイ解像度 | 温度:0.01°C 時間:0.01分 |
制御方法 | BTCバランス温度制御方式+DCC(インテリジェント冷却制御)+DEC(インテリジェント電気制御)(温度試験装置) BTHCバランス温湿度制御方式+DCC(インテリジェント冷却制御)+DEC(インテリジェント電気制御)(温湿度試験装置) |
カーブ記録機能 | バッテリー保護付きのRAMを備えており、デバイスの設定値、サンプリング値、サンプリング時間を節約できます。最大記録時間は350日(サンプリング期間が1.5分の場合)です。 |
アクセサリー機能 | 故障警報と原因、処理プロンプト機能 電源オフ保護機能 上限および下限温度保護機能 カレンダータイミング機能(自動開始・自動停止動作) 自己診断機能 |
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