積載

Haida試験装置は、2019年に新しいハイテク企業の証明書を取得しました                                       電話:+86-13602361535 Eメール:[email protected]

ハイダ製品
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SATA Customized Chip High and Low Temperature Accelerated Aging Chamber 72 Pieces 1
SATA Customized Chip High and Low Temperature Accelerated Aging Chamber 72 Pieces 1

SATA カスタマイズチップ高温および低温加速老化チャンバー 72 個

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    特徴

    l30個、36個、42個、48個、54個、72個、100個、160個、200個など、SATA量産試験片の数のカスタマイズをサポートします。

    l6個、12個などの超小型カスタマイズの研究開発をサポートします。

    lサポート(-70°~+ 180°)テスト;

    l異常停電テストとエージングテストをサポートします。

    l自動温度制御テストをサポートします。

    lインテリジェントな制御テストのためのすべてのソフトウェアをサポートします。

    lテストソフトウェアのカスタマイズをサポートします。

    lボックス内の風速と温度のバランスをサポートします。

    l急速加熱および冷却制御をサポートします。

    lPCIE/EMMC/UFS/DRAM/フラッシュエージングのカスタマイズされた研究開発をサポートします。

    lネットワーク制御をサポートし、さまざまな場所でテストを制御し、テスト結果を表示できます。

    lAPPリモートコントロールテストをサポートします。

    情報

    モデル

    ハードディスク-72-SATA

    内箱サイズ

    幅500×奥行き400×高さ1020mm

    外箱サイズ

    に関しては幅1250×奥行き1350×高さ1910mm

    容積

    204L

    開封方法

    シングルドア(右開)

    冷却方式

    空冷

    重量

    に関しては930キロ

    電源

    交流220Vに関しては12KWの

    Temperature パラメータ

    温度範囲

    -70°C~150°C

    温度 変動

    ≤±0.5°C

    ≤±1°C

    温度オフセット

    ≤±2°C

    温度分解能

    0.01°C

    加熱速度

    5°C/分(機械冷却、標準負荷下)

    温度変化率

    高温は5を満たすことができます°C~8°C/min非線形調整可能(空気出口で測定、機械的冷凍、標準負荷下)、低温は0を満たすことができます°C~2°C/min 非線形

    調整可能(空気出口、機械冷却、常負荷下で測定)

    温度均一性

    ≤±2°C

    標準荷重

    10KGアルミブロック、500W負荷。

    試験基準

    GB/T5170.2-2008 温度試験装置

     

    GB/2423.1-2008 (IEC60068-2-1:2007) 低温試験方法 AB.

     

    GB/2423.2-2008 (IEC60068-2-2:2007) 高温試験方法 BA.

     

    GJBl50.3(MIL-STD-810D)高温試験方法。

     

    GJBl50.4(MIL-STD-810D)低温試験方法。


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