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Haida試験装置は、2019年に新しいハイテク企業の証明書を取得しました                                       電話:+86-13602361535 Eメール:[email protected]

ハイダ製品
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Climatic HAST High Pressure Accelerated Aging Tester For Semiconductor Chip 1
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半導体チップ用気候 HAST 高圧加速老化試験機

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    高圧加速老化試験機

    顔立ち:

    1.輸入された耐高温電磁弁の二重回路構造を採用し、故障率を最大限に低減します。

    2.製品に局所的な損傷を与えないように、製品への蒸気の直接的な影響を避けるための独立した蒸気発生室。

    3.ドアロックの省力化構造により、ロックが困難な第1世代のディスク型ハンドルの欠点を解決します。

    4.テスト前に冷気を排出します。試験中の排気冷気(試験タンク内の空気が排出される)の設計により、圧力の安定性と再現性が向上します。

    5.超長期実験運転時間、400時間の長期実験機械運転。

    6.試験室の水位センサーの検出と保護による水位保護。

    7.耐圧設計で、ボックスは2.65kgの圧力(150°C)に耐えることができ、6kgの水圧試験を満たしています。

    8.2段複合制御装置と機械的圧力保護装置を使用した2段圧力安全保護装置。

    9.安全保護圧力リリーフボタン、緊急安全装置2段階自動圧力リリーフボタン。

    10.最大3000Vのバイアステスト端子耐電圧(オプション)

    11. USBエクスポート履歴データ曲線

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